Aktualności

Warsztaty administratorów Automatycznego Systemu Identyfikacji Daktyloskopijnej (AFIS)

Data publikacji 26.10.2017

W dniach 23–26 października 2017 roku w Paryżu (Francja) odbyły się warsztaty administratorów Automatycznego Systemu Identyfikacji Daktyloskopijnej (AFIS) zorganizowane przez producenta systemu firmę IDEMIA.

W ramach warsztatów związanych z administracją i zapewnieniem wysokiego bezpieczeństwa działania systemu AFIS przeprowadzono weryfikację zgodności środowiska testowego znajdującego się siedzibie producenta z systemem krajowym AFIS. Omawiane podczas spotkania tematy dotyczyły również konfiguracji i integralności zastosowanych rozwiązań biometrycznych, poprawy skuteczności oraz implementacji poprawek systemowych przygotowywanych na podstawie zgłoszeń serwisowych. Z ramienia Centralnego Laboratorium Kryminalistycznego Policji w przedsięwzięciu udział wzięli przedstawiciele Zakładu Daktyloskopii, odpowiedzialni za administrację AFIS i nadzór merytoryczny nad systemem: kom. Kamil Starzomczyk – Zastępca Kierownika Zakładu Daktyloskopii CLKP oraz podinsp. Beata Krzemińska i st. asp. Małgorzata Walecka.